電子顯微鏡是使用電子來展示物件的內(nèi)部或表面的顯微鏡。高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的理論分辨率（約0.1納米）遠高于光學顯微鏡的分辨率（約200納米）。

透射電子顯微鏡（Tran***ission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡 ，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，干旱脅迫電鏡檢測服務，影像將在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來。

在掃描電鏡中，入射電子束在樣品上的掃描和顯像管中電子束在熒光屏上的掃描是用一個共同的掃描發(fā)生器控制的。這樣就保證了入射電子束的掃描和顯像管中電子束的掃描完全同步，保證了樣品上的“物點”與熒光屏上的“象點”在時間和空間上一一對應，稱其為“同步掃描”。一般掃描圖象是由近100萬個與物點一一對應的圖象單元構成的，正因為如此，才使得掃描電鏡除能顯示一般的形貌外，還能將樣品局部范圍內(nèi)的化學元素、光、電、磁等性質的差異以二維圖象形式顯示。



樣品室處在聚光鏡之下，內(nèi)有載放樣品的樣品臺。樣品臺必須能做水平面上X、Y方向的移動，以選擇、移動觀察視野，相對應地配備了2個操縱桿或者旋轉手輪，這是一個精密的調(diào)節(jié)機構，每一個操縱桿旋轉10圈時，樣品臺才能沿著某個方向移動3mm左右。現(xiàn)代電鏡可配有由計算機控制的馬達驅動的樣品臺，力求樣品在移動時，固定時穩(wěn)定；并能由計算機對樣品做出標簽式***標記，以便使用者在需要做回顧性對照時依靠計算機***查找，這是在手動選區(qū)操作中很難實現(xiàn)的。　



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