要獲得一張清晰的電鏡照片，必須要能夠做好基本的電鏡操作、以及針對各種樣品做出工作條件的優(yōu)化。

基本操作包括熟練的調(diào)節(jié)對焦和消像散。對焦相對容易，改變焦距，直至圖像清楚的時刻即為合焦。在偏離焦距較多的時候可以用較高的靈敏度，在合焦點附近調(diào)低靈敏度，以便進行對焦。

基本操作中消像散相對來說比較麻煩，植物半薄切片檢測技術(shù)服務(wù)，特別是像散很大時，對于很多初學(xué)者來說調(diào)節(jié)比較困難。不過前面已經(jīng)介紹了像散的產(chǎn)生，電子束由于不再是圓形，所以在像散未消除的情況下，圖像是不清晰的。不過其中有兩個特殊的位置，即光學(xué)中的子午和弧矢，在這兩個位置上束斑完全成正交的直線。而明晰圓一般在弧矢和子午的中間。

掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM）是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器  。具有景深大、分辨率高，成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富，幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點。目前，掃描電子顯微鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究，僅在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。



衍射圖樣的動態(tài)范圍通常非常大。對于晶體樣品，這個動態(tài)范圍通常超出了CCD所能記錄的大范圍。因此TEM通常裝備有膠卷暗盒以記錄這些圖像。對衍射圖樣點對點的分析非常復(fù)雜，這是由于圖像與樣品的厚度和方向、物鏡的失焦、球面像差和色差等等因素都有非常密切的關(guān)系。盡管可以對格點圖像對比度進行定量的解釋，然而分析本質(zhì)上非常復(fù)雜，需要大量的計算機來計算。衍射平面還有更加復(fù)雜的表現(xiàn)，例如晶體格點的多次衍射造成的菊池線。在會聚電子束衍射技術(shù)中，會聚電子束在樣品表面形成一個極細(xì)的探針，從而產(chǎn)生了不平行的會聚波前，而匯聚電子束與樣品的作用可以提供樣品結(jié)構(gòu)以外的信息，例如樣品的厚度等等。



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