光譜分析法

光譜分析法

光譜分析法是根據(jù)物質(zhì)的光譜來鑒別物質(zhì)及確定其化學(xué)組成 和相對含量的方法，是以分子和原子的光譜 學(xué)為基礎(chǔ)建立起的分析方法。包含三個主要 過程：①能源提供能量；②能量與被測物質(zhì) 相互作用；可檢測原材料（板材、復(fù)合板材、管材、鑄件、鍛件）及零部件中的缺陷。③產(chǎn)生被檢測訊號。光譜法分類 很多，用物質(zhì)粒子對光的吸收現(xiàn)象而建立起的 分析方法稱為吸收光譜法，如紫外-可見吸收 光譜法、紅外吸收光譜法和原子吸收光譜法 等。利用發(fā)射現(xiàn)象建立起的分析方法稱為發(fā)射 光譜法，如原子發(fā)射光譜法和熒光發(fā)射光譜法 等。由于不同物質(zhì)的原子、離子和分子的能級 分布是特征的，則吸收光子和發(fā)射光子的能量也是特征的。以光的波長或波數(shù)為橫坐標(biāo)，以 物質(zhì)對不同波長光的吸收或發(fā)射的強(qiáng)度為縱坐 標(biāo)所描繪的圖像，稱為吸收光譜或發(fā)射光譜。

可利用物質(zhì)在不同光譜分析法的特征光譜對其 進(jìn)行定性分析，根據(jù)光譜強(qiáng)度進(jìn)行定量分析。

像質(zhì)計靈敏度

像質(zhì)計（像質(zhì)指示器，透度計）是測定射線照片的射線照相靈敏度的器件，根據(jù)在底片上顯示的像質(zhì)計的影像，可以判斷底片影像的質(zhì)量，并可評定透照技術(shù)、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗?zāi)芰Φ取?

廣泛使用的像質(zhì)計主要是三種：絲型像質(zhì)計、階梯孔型像質(zhì)計、平板孔型像質(zhì)計，此外還有槽型像質(zhì)計和雙絲像質(zhì)計等。像質(zhì)計應(yīng)用與被檢驗工件相同或?qū)ι渚€吸收性能相似的材料制做。各種像質(zhì)計設(shè)計了自己特定的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)形式，規(guī)定了自己的測定射線照相靈敏度的方法。2、互容性互容性——即指檢驗方法的互容性，即：同一零件可同時或依次采用不同的檢驗方法。

超聲波探傷的基本原理是什么？

答：超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時，在界面邊緣發(fā)生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時就分別發(fā)生反射波來，在螢光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。磁粉探傷（檢測）原理磁粉檢測，是通過對被檢工件施加磁場使其磁化（整體磁化或局部磁化），在工件的表面和近表面缺陷處將有磁力線逸出工件表面而形成漏磁場，有磁極的存在就能吸附施加在工件表面上的磁粉形成聚集磁痕，從而顯示出缺陷的存在。

超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優(yōu)的缺點？

答：超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、，對***無害等優(yōu)點；缺點是對工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗的檢驗人員才能辨別缺陷種類、對缺陷沒有直觀性；超聲波探 傷適合于厚度較大的零件檢驗。

超聲波探傷的主要特性有哪些？

答：1、超聲波在介質(zhì)中傳播時，在不同質(zhì)界面上具有反射的特性，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長時，則超聲波在缺陷上反射回來，探傷儀可將反射波顯示出來；如缺陷的尺寸甚至小于波長時，聲波將繞過射線而不能反射；

2、波聲的方向性好，頻率越高，方向性越好，以很窄的波束向介質(zhì)中輻射，易于確定缺陷的位置。