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EMMI微光顯微鏡
微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言,微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron Hole Pairs)Recombination會放出光子(Photon)。如在P-N結(jié)加偏壓,此時N阱的電子很容易擴(kuò)散到P阱,而P的空穴也容易擴(kuò)散至N,然后與P端的空穴(或N端的電子)做EHP Recombination。在故障點(diǎn)***、尋找近紅外波段發(fā)光點(diǎn)等方面,微光顯微鏡可分析P-N接面漏電;P-N接面崩潰;飽和區(qū)晶體管的熱電子;氧化層漏電生的光子激發(fā);Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.
微光顯微鏡emmi檢測和emmi分析解說
通常第三方檢測實(shí)驗(yàn)室用戶對emmi檢測需要了解哪些內(nèi)容呢?首先在分析故障的時候利用微光顯微鏡,它的主要特點(diǎn)是效率非常高,主要偵測IC內(nèi)部所發(fā)射出來的光子,在檢測芯片的時候由于電子很容易擴(kuò)散到的位置。所以做emmi檢測通常是非常有必要的。它的主要優(yōu)勢就是通過產(chǎn)生亮點(diǎn)的缺陷,能夠接處毛刺從而有效的進(jìn)行分析,可以檢測不到亮點(diǎn)的情況,然后進(jìn)行排除。同時利用光誘導(dǎo)的電阻變化能夠準(zhǔn)確的,高速燒錄器價格,對于IC元件的短路,或者是互聯(lián)當(dāng)中所出現(xiàn)的空洞來進(jìn)行檢測,這樣才會更加的。
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EMMI (Emission Microscopy)是用來做故障點(diǎn)***、尋找亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合組件(C-CCD)偵測器,可偵測組件中電子-電洞再結(jié)合時所發(fā)射出來的光子,高速燒錄器設(shè)備,其光波長在 350 nm ~ 1100 nm,此范圍相當(dāng)于可見光和紅外光區(qū)。蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù),高速燒錄器,產(chǎn)品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測試與檢測。
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