掃描電子顯微鏡的應(yīng)用

掃描電子顯微鏡的應(yīng)用

　掃描電子顯微鏡廣泛用于材料科學(xué)（金屬材料、非金屬材料、納米材料）、冶金、生物學(xué)、***、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲害的防治、災(zāi)害（火災(zāi)、失效分析）鑒定、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。

　　顯微鏡在材料科學(xué)、金屬材料、陶瓷材料半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域，進(jìn)行材料的微觀形貌、***、成分分析。各種材料的形貌***觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，紅河普通透射電鏡測試，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體/晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

　　其工作原理為：在高真空的鏡筒中，由電子產(chǎn)生的電子束經(jīng)電子會(huì)聚透鏡聚焦成細(xì)束后，普通透射電鏡測試中心，在樣品表面逐點(diǎn)進(jìn)行掃描轟擊，產(chǎn)生一系列電子信息（二次電子、背反射電子、透射電子、吸收電子等），由探測器將各種電子信號(hào)接收后經(jīng)電子放大器放大后輸入由顯像管柵極控制的顯像管。

掃描電子顯微鏡的工作原理

掃描電子顯微鏡的工作原理

　　從電子陰極發(fā)出的直徑20μm～30μm的電子束，受到陰陽極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經(jīng)過聚光鏡以及物鏡的會(huì)聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光柵狀掃描而且激發(fā)出多種電子信號(hào)。這些電子信號(hào)被相應(yīng)的檢測器檢測，通過放大、轉(zhuǎn)換，變成電壓信號(hào)，普通透射電鏡測試機(jī)構(gòu)，之后被送到顯像管的柵極上并且調(diào)制顯像管的亮度。顯像管中的電子束在熒光屏上也作光柵狀掃描，并且這種掃描運(yùn)動(dòng)與樣品表面的電子束的掃描運(yùn)動(dòng)嚴(yán)格同步，這樣即獲得襯度與所接收信號(hào)強(qiáng)度相對應(yīng)的掃描電子像，這種圖象反映了樣品表面的形貌特征。第二節(jié)掃描電鏡生物樣品制備技術(shù)大多數(shù)生物樣品都含有水分，普通透射電鏡測試費(fèi)用，而且比較柔軟，所以，當(dāng)我們在進(jìn)行掃描電鏡觀察之前，一定要對樣品作相應(yīng)的處理。掃描電鏡樣品制備的主要步驟：盡可能讓樣品的表面結(jié)構(gòu)儲(chǔ)存好，沒有變形還有污染，樣品干燥并且有優(yōu)良導(dǎo)電性能。

電鏡在功能材料中的應(yīng)用掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。它是運(yùn)用聚焦十分窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束合物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大還有再成像為了達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。如何簡單快速地得到樣品形貌信息，對功能材料的研發(fā)具有十分重要的意義。臺(tái)式電鏡具有以下優(yōu)點(diǎn)：1.占地空間小，不需要配備太多額外設(shè)備，對放置樓層也無太多要求2.操作簡單，也無需操作人員，學(xué)生也可快速上手操作3.速度快，15秒抽真空，30秒成像，短時(shí)間可以完成大量樣品測試

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