電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2423.1-2008
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫
本部分代替GB/T2423.1—2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫》,與之相比,主要變化如下: ———刪除了試驗(yàn)Aa:非散熱試驗(yàn)樣品 2009年6月17日 GB/T2421.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1 部分:總則(GB/T2421.1—2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境 2010年6月18日 2008年12月30日 2001年7月12日 GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(應(yīng)助). 本帖被 caballo3157 執(zhí)行鎖定操作(2010-11-07) 1981年8月10日 2009年3月24日 本試驗(yàn)不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響,對(duì)這種影響,應(yīng)使用高溫或低溫試驗(yàn) 方法。