X射線熒光分析裝置是使用X射線照射樣品,對(duì)產(chǎn)生的熒光X射線的能量進(jìn)行檢測(cè),測(cè)定構(gòu)成樣品的元素種類(lèi)及含量的裝置。可無(wú)損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤(pán)、單晶片等的元素分析,廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。特別是***近,以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令(WEEE)、電子電氣設(shè)備所含特定***物質(zhì)限制使用指令(RoHS)、報(bào)廢汽車(chē)指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等***為代表的綠色采購(gòu)及環(huán)境分析之中,要求更為微量、更為迅速的分析。 為滿足這種需求,暢銷(xiāo)***的EDX系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。 |