7800型***檢測儀

硬件獨特性:

符合***嚴格的輻射防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式。探頭指標高，性能好，壽命長；全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作可靠，效率高；配備高清晰的攝像***系統(tǒng)，測量更直觀、方便、快捷。配置固定樣品用多軸向夾具。

EXF7800在EXF7200的平臺上集成工業(yè)級計算機，升級了顯示屏幕和電路結構，無需再外接電腦；造型時尚***，帶多節(jié)點預啟動裝置和實時監(jiān)控系統(tǒng)；帶門鎖電鎖，使得日常管理更便捷；加裝自動防輻射泄漏裝置，主動性的保證使用人員安全；帶電動開蓋裝置，令測試更輕松。

 周艷  13682384615

激發(fā)源：Mo靶的X光管 風冷 (無輻射）

測量點尺寸：1～2mm

樣品室: 長400 mm×寬: 300mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統(tǒng)

軟件：菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評估及計算

計算機：選擇配置

檢測器：固定式半導體封氣正比計數(shù)器微處理器控制的檢測器和讀出電路

其它規(guī)格：

    電壓:100～127或200～240V,50/60 Hz

    ***大功率:120W

    ***大處尺寸:500mm*500mm*400mm

    重量:48kg

技術指標

    分析范圍：1%～99.99%

    測量時間：自適應

    測量精度： &plu***n; 0.1%

    測試環(huán)境：常溫常態(tài)

    分析元素：Au 、Ag 、Pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd﹑W

    X射線源：X射線光管

    高壓器：4～50Kv

    分析：多通道模擬

    操作系統(tǒng):Windows2000/Me/XP

鍍層測量：

    鍍層厚度范圍<30μm

    可測量元素種類：Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd

    ***大測量層數(shù)：5層

測量精度：0.03μm

廠　  家:  深圳市西凡科技有限公司

地　  址:   深圳市寶安區(qū)25區(qū)華豐時代廣場260

負 責 人：  周  艷

手　  機： 136 8238 4615