反射率測(cè)量?jī)x——廣州景頤光電科技有限公司是專門做反射率檢測(cè)儀的公司
硅片反射率檢測(cè)儀
21世紀(jì)的人類搭上了科技飛速進(jìn)步的快車,濟(jì)寧反射率測(cè)量?jī)x,生活中許多微量元素都經(jīng)過加工制作成半導(dǎo)體等電子元件。
其中硅片的用途在工業(yè)生產(chǎn)中占著不可或缺的地位,通常被應(yīng)用于如計(jì)算機(jī)、電信和電視,還有的應(yīng)用于***的微波傳送、激光轉(zhuǎn)換系統(tǒng)、診斷和設(shè)備、防御系統(tǒng)和NASA航天飛機(jī)等領(lǐng)域。
景頤光電反射率檢測(cè)儀是一套全波長(zhǎng)380nm-1000nm的光譜分析儀,能快速準(zhǔn)確地測(cè)量硅片的反射率。
適用于評(píng)估硅片的遮蓋力,或金屬化薄膜,陽(yáng)極氧化鋁或陶瓷的簡(jiǎn)單遮光分選任務(wù)。
歡迎咨詢景頤光電了解更多反射率測(cè)量?jī)x
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反射率測(cè)量?jī)x注意事項(xiàng)
鏡片反射率測(cè)量?jī)x采用了高靈敏的光電轉(zhuǎn)換裝置,后視鏡反射率測(cè)量?jī)x,使用時(shí)要保證本儀器的光學(xué)、電路部分不受外界環(huán)境影響。吸附在探頭中透光玻璃上的灰塵或水汽會(huì)影響測(cè)量讀數(shù),要用鏡布及時(shí)擦凈。
1、為保證測(cè)量精度,測(cè)量環(huán)境溫度應(yīng)接近25°C。儀器應(yīng)經(jīng)常校準(zhǔn),允許偏差為±0.3,若大于0.3需要新校準(zhǔn)?! ?/p>
2、為克服硅光電池的光照疲勞現(xiàn)象,在測(cè)試的間隙時(shí)間內(nèi)應(yīng)將探頭放在黑色標(biāo)準(zhǔn)板上面。
3、白色標(biāo)準(zhǔn)版應(yīng)遠(yuǎn)離污染,否則會(huì)影響測(cè)量精度。如有污漬可用繪圖橡皮除凈。
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硅片反射率檢測(cè)儀
硅片又稱晶圓片,是由硅錠加工而成的,通過專門的工藝可以在硅片上刻蝕出數(shù)以百萬計(jì)的晶體管,被廣泛應(yīng)用于集成電路的制造。
硅屬于半導(dǎo)體材料,其自身的導(dǎo)電性并不是很好。然而,可以通過添加適當(dāng)?shù)膿诫s劑來控制它的電阻率。制造半導(dǎo)體前,汽車倒車鏡反射率測(cè)量?jī)x,必須將硅轉(zhuǎn)換為晶圓片。
加工硅片生成一個(gè)硅錠要花一周到一個(gè)月的時(shí)間,這取決于很多因素,包括大小、質(zhì)量和終端用戶要求,因此需要反射率檢測(cè)儀來測(cè)試其是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。
景頤光電生產(chǎn)的反射率檢測(cè)系統(tǒng)采用鹵素?zé)艄庠椿蜃贤馊庾V光源,光源輸出均勻穩(wěn)定,操作簡(jiǎn)便,使用靈活,還可定制工業(yè)在線自動(dòng)檢測(cè)方案。
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