隨著近年來國內(nèi)光伏市場的擴大和分布式光伏發(fā)電系統(tǒng)的發(fā)展，電站設(shè)計人員對各類光伏組件產(chǎn)品性能也提出更高要求。目前，對于光伏組件的電氣性能測試主要依賴實驗室內(nèi)的太陽光模擬器，檢測其輸出特性曲線，該方法便于控制輻照度及溫度等環(huán)境參數(shù)。但光伏組件實際工作于戶外復(fù)雜環(huán)境，其輸出功率易受到灰塵、沙礫、雨雪等因素影響，輸出特性也可能因建筑、樹蔭等周期性陰影改變，因此光伏組件實際輸出功率一般遠低于實驗室內(nèi)理想環(huán)境下的輸出功率。目前，國內(nèi)外對光伏陣列的IV特性測量已提出了部分方法，主要是采用動態(tài)電容充電方法，現(xiàn)場的同步測量光伏陣列IV特性。該方法測量速度較快，對控制器的采樣速率要求也較高。此外，也有基于可變電子負載的現(xiàn)場測量方法，它對光伏陣列IV特性曲線上大功率點附近測量點較多，但對短路和開路點附近測量點數(shù)量較少，當(dāng)光伏陣列處于輕微失配或遮蔽等工況下，該方法難以實現(xiàn)對此現(xiàn)象的測量。針對如何更細致的反應(yīng)光伏組件戶外輸出性能，提出了戶外光伏組件測試平臺，它使光伏組件長期工作于戶外環(huán)境下，實時監(jiān)測其輸出特性，并積累測量數(shù)據(jù)，以評估組件長期工作于戶外環(huán)境下的輸出性能，使電站設(shè)計人員針對具體環(huán)境，選用更合理的光伏組件搭建光伏系統(tǒng)。也為組件生產(chǎn)商和科研實驗工作提供了更好的保障與技術(shù)支持。

硅片對***有什么危害　　硅對***大的危害是引起。由于長期大劑量吸入二氧化硅（Si02）粉塵所致。硅塵進入呼吸道，被肺巨噬細胞吞噬，釋放出活性因子，刺激成纖維細胞合成更多的膠原。硅塵還可刺激巨噬細胞釋放溶酶體酶，***Si02表面被覆的蛋白質(zhì)而暴露受損的細胞膜，還可啟動脂質(zhì)過氧化，產(chǎn)生自由基，損傷甚至巨噬細胞，的細胞可刺激臨近成纖維細胞合成膠原。硅塵重新被釋放出來，又被其它的巨噬細胞吞噬，而產(chǎn)生更多的膠原纖維，隨著時間的延續(xù)，病程進展引起。各類金屬礦山的工、隧道工、耐火材料工業(yè)中的隨石工、玻璃制品和石英磨粉工、清沙工都較易接觸硅塵而發(fā)生。由于防塵工作的大力開展，發(fā)病率己有明顯降低，但尚未被完全控制，仍是我國目前主要的職業(yè)病之一。

硅片本來是無害的，如果但過多攝入鋅對******，會引起頭暈、嘔吐和腹瀉等。主要成分是二氧化硅，也就是所謂的沙子，所以一般來說對***無害。

硅片是半導(dǎo)體材料，如果是檢測裸硅片的話是沒有任何危害的，但如果你要使用laser的機臺的話注意下激光源。如果是在起碼module比如CVDPVD的話是有一些有***體的。

光伏組件PID效應(yīng)是什么意思？提及光伏組件，太陽能板電池板回收，必然要注意其兩大效應(yīng)，一個是熱斑效應(yīng)，一個是PID效應(yīng)，那么，光伏PID效應(yīng)是什么？

PID的英文全稱是：PotenTIal Induced DegradaTIon，即電勢誘導(dǎo)衰減。

2005年美國SunPower公司發(fā)現(xiàn)并提出PID效應(yīng)，指組件長期在高電壓工作，在蓋板玻璃、封裝材料、邊框之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，使得電池片表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子、短路電流、開路電壓降低，使組件性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)，但此衰減是可逆的。

也有研究發(fā)現(xiàn)并對PID效應(yīng)作出解釋：光伏組件在受到負偏壓時，由漏電流陽極離子（一般為Na離子）流入電池片，降低電池的并聯(lián)電阻。即，半導(dǎo)體內(nèi)出現(xiàn)了雜質(zhì)，這些雜質(zhì)會形成電池內(nèi)部的導(dǎo)電通道，降低了組件的電流輸出。