局部放電是絕緣介質(zhì)中的一種電氣放電，這種放電限制在被測(cè)介質(zhì)中一部分且只使導(dǎo)體間的絕。緣局部橋接這種放電可能發(fā)生或可能不發(fā)生于導(dǎo)體的鄰近電力設(shè)備絕緣中的某些薄弱部位在強(qiáng)電場(chǎng)的作用下發(fā)生局部放電是高壓絕緣中普遍存在的問題雖然局部放電一般不會(huì)引起絕緣的穿透性擊穿但可以導(dǎo)致電介質(zhì)特別是有機(jī)電介質(zhì)的，局部損壞若局部放電長期存在在一定條件下會(huì)導(dǎo)致絕緣劣化甚至擊穿對(duì)電力設(shè)備進(jìn)行局部放電試驗(yàn)不但能夠了解設(shè)備的絕緣狀況還能及時(shí)發(fā)現(xiàn)許多有關(guān)制造與安裝方面的問題確定絕緣故障的原因及其嚴(yán)重程度。

屏蔽室就是利用其屏蔽的原理，用金屬材料制成一個(gè)六面體房間，由于金屬板(網(wǎng))對(duì)入射電磁波的吸收損耗、界面反射損耗和板內(nèi)反射損耗，使其電磁波的能量大大的減弱，而使屏蔽室產(chǎn)生屏蔽作用。

局放檢測(cè)設(shè)備在進(jìn)行局放測(cè)試時(shí)容易受電磁干擾的影響，而計(jì)算機(jī)、通信機(jī)、電子設(shè)備及變頻大功率設(shè)備在正常工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生一定強(qiáng)度的電磁波，小型局放測(cè)試儀，同時(shí)局放檢測(cè)設(shè)備需要在小于一定強(qiáng)度的電磁環(huán)境下保證其正常工作，因此局放測(cè)試時(shí)需要在電磁屏蔽室內(nèi)進(jìn)行局放測(cè)試。

局部放電測(cè)量法的理論分析

　　局部放電測(cè)試儀測(cè)量方法分為電測(cè)法和非電測(cè)法兩大類。電測(cè)法應(yīng)用較多的是脈沖電流法和無線電干擾電壓法。電測(cè)法已廣泛用于局部放電的定量測(cè)量。

　　脈沖電流法的測(cè)試原理是試品產(chǎn)生一次局部放電，在其兩端就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)瞬時(shí)的電壓變化，此時(shí)在被試品、耦合電容和檢測(cè)阻抗組成的回路中產(chǎn)生一脈沖電流。脈沖電流經(jīng)過檢測(cè)阻抗會(huì)在其兩端產(chǎn)生一脈沖電壓，將此脈沖電壓進(jìn)行、放大、顯示等處理，就可產(chǎn)生局部放電的一些基本量，尤其是局部放電量。

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