測(cè)長(zhǎng)機(jī)簡(jiǎn)介 以線紋尺的刻度或光波波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度,利用機(jī)械測(cè)頭進(jìn)行接觸測(cè)量的光學(xué)長(zhǎng)度測(cè)量工具。 以線紋尺的刻度或光波波長(zhǎng)作為已知長(zhǎng)度,利用機(jī)械測(cè)頭進(jìn)行接觸測(cè)量的光學(xué)長(zhǎng)度測(cè)量工具。測(cè)長(zhǎng)機(jī)具有能在3個(gè)坐標(biāo)內(nèi)移動(dòng)和2個(gè)坐標(biāo)內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)的可調(diào)工作臺(tái),還帶有不同測(cè)頭和附件,常用于檢定大尺寸量塊和測(cè)量多種工件的內(nèi)、外尺寸。測(cè)長(zhǎng)機(jī)有 1米、3米、6米和6米以上等幾種測(cè)量范圍,分度值通常為1微米。為求結(jié)構(gòu)緊湊,多數(shù)測(cè)長(zhǎng)機(jī)不采用阿貝原則(見(jiàn)長(zhǎng)度測(cè)量工具),而采用愛(ài)賓斯坦光學(xué)系統(tǒng)。這種光學(xué)系統(tǒng)能自動(dòng)補(bǔ)償由于導(dǎo)軌直線度誤差引起的測(cè)量誤差。測(cè)量范圍在1米以內(nèi)的習(xí)慣上稱為測(cè)長(zhǎng)儀,它利用讀數(shù)顯微鏡和帶有線紋尺的測(cè)量軸組成的測(cè)量系統(tǒng)(習(xí)慣上稱為阿貝頭)進(jìn)行接觸測(cè)量。阿貝頭的示值范圍一般為 100毫米。測(cè)長(zhǎng)儀有立式和臥式兩種。它的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)一般符合阿貝原則,故通常也稱為阿貝測(cè)長(zhǎng)儀。立式測(cè)長(zhǎng)儀和臥式測(cè)長(zhǎng)儀的測(cè)量范圍通常分別不大于250毫米和600毫米(測(cè)量范圍大于100毫米時(shí)需要用量塊調(diào)整零位)。前者主要用于測(cè)量外尺寸,后者主要用于測(cè)量較大工件或在立式測(cè)長(zhǎng)儀上不易***的工件如圓盤等的內(nèi)、外尺寸等。測(cè)長(zhǎng)機(jī)具有能在3個(gè)坐標(biāo)內(nèi)移動(dòng)和2個(gè)坐標(biāo)內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)的可調(diào)工作臺(tái),還帶有不同測(cè)頭和附件,常用于檢定大尺寸量塊和測(cè)量多種工件的內(nèi)、外尺寸。測(cè)長(zhǎng)機(jī)有 1米、3米、6米和6米以上等幾種測(cè)量范圍,分度值通常為1微米。為求結(jié)構(gòu)緊湊,多數(shù)測(cè)長(zhǎng)機(jī)不采用阿貝原則(見(jiàn)長(zhǎng)度測(cè)量工具),而采用愛(ài)賓斯坦光學(xué)系統(tǒng)。這種光學(xué)系統(tǒng)能自動(dòng)補(bǔ)償由于導(dǎo)軌直線度誤差引起的測(cè)量誤差。測(cè)量范圍在1米以內(nèi)的習(xí)慣上稱為測(cè)長(zhǎng)儀(圖2[測(cè)長(zhǎng)儀]),它利用讀數(shù)顯微鏡和帶有線紋尺的測(cè)量軸組成的測(cè)量系統(tǒng)(習(xí)慣上稱為阿貝頭)進(jìn)行接觸測(cè)量。阿貝頭的示值范圍一般為 100毫米。測(cè)長(zhǎng)儀有立式和臥式兩種。它的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)一般符合阿貝原則,故通常也稱為阿貝測(cè)長(zhǎng)儀。立式測(cè)長(zhǎng)儀和臥式測(cè)長(zhǎng)儀的測(cè)量范圍通常分別不大于250毫米和600毫米(測(cè)量范圍大于100毫米時(shí)需要用量塊調(diào)整零位)。前者主要用于測(cè)量外尺寸,后者主要用于測(cè)量較大工件或在立式測(cè)長(zhǎng)儀上不易***的工件如圓盤等的內(nèi)、外尺寸等。 測(cè)長(zhǎng)機(jī) http:/// |