半導(dǎo)體芯片測(cè)試設(shè)備認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級(jí)至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測(cè)試方案；詳詢一八一四零六六三四七六；
S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢(shì)：
1、多功能測(cè)量需求下的廣泛的適應(yīng)性，電壓高達(dá)300V，電流低至30pA；
2、實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測(cè)量同步進(jìn)行，提高測(cè)試效率。
3、具備對(duì)測(cè)試器件的保護(hù)功能，可進(jìn)行自我限制，避免因過充而造成的對(duì)測(cè)試器件的損害；
***的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護(hù)功能，避免器件損壞。
4、觸屏圖形化操作，使用簡(jiǎn)單。開放式平臺(tái)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求而針對(duì)性的開發(fā)軟件
產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作
內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如LIV、PIV
源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.03%
四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：高至300V，低至3pA
豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告
支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
技術(shù)參數(shù)
Z大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；
源限度：電壓源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；
電流源：±3.15A（≤10V量程），±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；
過量程： 105%量程，源和測(cè)量；
穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；
寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；
線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗30KΩ，輸出電壓偏移<80uV；
***大采樣速率：1000 S/s；
觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置；
輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時(shí)刻只能用前或者后面板接口；
通信口：RS-232、GPIB、以太網(wǎng)；
電源：AC 100~240V 50/60Hz；
工作環(huán)境：25±10℃；
尺寸：106mm高 × 255mm寬 × 425mm長(zhǎng)；
S系列源表應(yīng)用
分立器件特性測(cè)試：電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測(cè)試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器；
傳感器特性測(cè)試：電阻率、霍爾效應(yīng)等；
有機(jī)材料特性測(cè)試：電子墨水、印刷電子技術(shù)等；
納米材料特性測(cè)試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測(cè)試：窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng)；
功率器件：靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng)；
電流傳感器：動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)；
普賽斯源表優(yōu)點(diǎn)：
同時(shí)***提供和測(cè)量電壓和/或電流；
同步測(cè)量，減少測(cè)試時(shí)間
提供和測(cè)量非常廣的電流和電壓；
電壓測(cè)試范圍±90uV-±300V,電流測(cè)試范圍±30pA-±3A
支持運(yùn)行用戶腳本程序，無需電腦控制，提高生產(chǎn)測(cè)試速度；
序列測(cè)試，簡(jiǎn)化操作，降低成本
采用用戶熟悉的圖形界面，不管用戶經(jīng)驗(yàn)是否豐富，使用起來都非常簡(jiǎn)便；
觸屏操作
與傳統(tǒng)電源比：
電源過零需要改變線連接方式；
增加需反復(fù)開關(guān)機(jī)械開關(guān)，降低了設(shè)備可靠性
電壓電流限制精度有限；
電壓1%，電流10mA
與電源結(jié)合萬用表組合比：
萬用表電源組合需要編程實(shí)現(xiàn)設(shè)備控制及同步；
復(fù)雜連線、編程開發(fā)
電源限壓限流性能差
限壓限流精度低，瞬態(tài)特性也無法保證
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