共濺射真空鍍膜MEMS真空鍍膜加工平臺(tái)——廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所是廣東省科學(xué)院下屬骨干研究院所之一,主要聚焦半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的應(yīng)用技術(shù)研究,兼顧重大技術(shù)應(yīng)用的基礎(chǔ)研究,立足于廣東省經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)展的實(shí)際需要,從事電子信息、半導(dǎo)體領(lǐng)域應(yīng)用基礎(chǔ)性、關(guān)鍵共性技術(shù)研究,以及行業(yè)應(yīng)用技術(shù)開(kāi)發(fā)。
真空設(shè)備安裝調(diào)試過(guò)程中的檢漏步驟如下:
1、了解待檢設(shè)備的結(jié)構(gòu)組成和裝配過(guò)程。掌握設(shè)備的要求,查明需要進(jìn)行檢漏的***部位。
2、根據(jù)所規(guī)定的大允許漏率以及是否需要找漏孔的具體位置等要求,并從經(jīng)濟(jì)、快速、可靠等原則出發(fā),正確選擇好檢漏方法或儀器,準(zhǔn)備好檢漏時(shí)所需的輔助設(shè)備后擬定切實(shí)可行的檢漏程序。
3、應(yīng)對(duì)被檢件進(jìn)行好清潔工作,取出焊渣、油垢后再按真空衛(wèi)生條件進(jìn)行清潔處理,并予以烘干。對(duì)要求高的小型器件。清潔處理后可通過(guò)真空烘干箱進(jìn)行烘烤,進(jìn)行清潔處理后不但可以避免漏孔不被污物、油、有機(jī)溶液等堵塞,而且也保護(hù)了檢漏儀器。
4、對(duì)所選用的檢漏方法和檢漏設(shè)備進(jìn)行檢漏靈敏度的校準(zhǔn),并確定檢漏系統(tǒng)的檢漏時(shí)間。
5、若采用真空檢漏法時(shí),為了提高儀器的靈敏度,應(yīng)盡可能將被檢件抽到較高真空。
6、在允許的前提下,應(yīng)盡可能優(yōu)先應(yīng)用較為經(jīng)濟(jì)和現(xiàn)場(chǎng)具備條件的檢漏方法。
7、采用氦質(zhì)譜檢漏設(shè)備檢漏時(shí),對(duì)于要求檢漏不高的或有大漏產(chǎn)生的被檢件時(shí),在檢漏初期應(yīng)盡量用濃度較低的氦氣進(jìn)行檢漏,然后再進(jìn)行小漏孔的檢漏,共濺射真空鍍膜平臺(tái),以節(jié)約氦氣。
8、對(duì)已檢出的大漏孔及時(shí)進(jìn)行修補(bǔ)堵塞后再進(jìn)行小漏孔的檢漏。
9、對(duì)檢出并修補(bǔ)的漏孔進(jìn)行一次復(fù)查以確保檢漏結(jié)果達(dá)到要求。
真空鍍膜機(jī)撿漏環(huán)節(jié),是從設(shè)計(jì)、制造、調(diào)試、使用等,各個(gè)環(huán)節(jié)都需要進(jìn)行的步驟,確一不可。
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共濺射真空鍍膜MEMS真空鍍膜加工平臺(tái)——廣東省科學(xué)院半導(dǎo)體研究所是廣東省科學(xué)院下屬骨干研究院所之一,主要聚焦半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的應(yīng)用技術(shù)研究,兼顧重大技術(shù)應(yīng)用的基礎(chǔ)研究,立足于廣東省經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)展的實(shí)際需要,從事電子信息、半導(dǎo)體領(lǐng)域應(yīng)用基礎(chǔ)性、關(guān)鍵共性技術(shù)研究,以及行業(yè)應(yīng)用技術(shù)開(kāi)發(fā)。
2.3.2速度
另一個(gè)變量是速度。對(duì)于單端鍍膜機(jī),鍍膜區(qū)的傳動(dòng)速度可以在每分鐘0~600英寸大約為0 ~ 15.24米)之間選擇。對(duì)于雙端鍍膜機(jī),鍍膜區(qū)的傳動(dòng)速度可以在每分鐘0~ 200英寸(大約為0~ 5.08米)之間選擇。在給定的濺射速率下,傳動(dòng)速度越低則表示沉積的膜層越厚。
2.3.3氣體
后一個(gè)變量是氣體??梢栽谌N氣體中選擇兩種作為主氣體和輔氣體來(lái)進(jìn)行使用。它們之間,任何兩種的比率也可以進(jìn)行調(diào)節(jié)。氣體壓強(qiáng)可以在1 ~ 5X 10-3torr之間進(jìn)行控制。
2.3.4陰極/基片之間的關(guān)系
在曲面玻璃鍍膜機(jī)中,山東共濺射真空鍍膜,還有一個(gè)可以調(diào)節(jié)的參數(shù)就是陰極與基片之間的距離。平板玻璃鍍膜機(jī)中沒(méi)有可以調(diào)節(jié)的陰極。
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在這一章里,主要介紹沙子轉(zhuǎn)變成晶體,共濺射真空鍍膜加工廠,以及晶圓和用于芯片制造級(jí)的拋光片的生產(chǎn)步
驟。
高密度和大尺寸芯片的發(fā)展需要大直徑的晶圓,早使用的是1英寸(25mm),而現(xiàn)在
300mm直徑的晶圓已經(jīng)投入生產(chǎn)線了。因?yàn)榫A直徑越大,單個(gè)芯片的生產(chǎn)成本就越低。
然而,直徑越大,晶體結(jié)構(gòu)上和電學(xué)性能的一致性就越難以保證,這正是對(duì)晶圓生產(chǎn)的一個(gè)
挑戰(zhàn)。
·硅晶圓尺寸是在半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中硅晶圓使用的直徑值。硅晶圓尺寸越大越好,因?yàn)檫@樣每塊晶圓能生產(chǎn)更多的芯片。比如,同樣使用0.13微米的制程在200mm的晶圓上可以生產(chǎn)大約179個(gè)處理器,而使用300mm的晶圓可以制造大約427個(gè)處理器,300mm直徑的晶圓的面積是200mm直徑晶圓的2.25倍,出產(chǎn)的處理器個(gè)數(shù)卻是后者的2.385倍,并且300mm晶圓實(shí)際的成本并不會(huì)比200mm晶圓來(lái)得高多少,因此這種成倍的生產(chǎn)率提高顯然是所有芯.片生產(chǎn)商所喜歡的。
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